一六仪器XD-1000高性价比上照式膜厚仪

XD-1000是一款全元素上照式荧光光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，可选配自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和的光路转换聚焦系统
2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm
3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，检测层Ni和第三层Ni的厚度）
4）配备高精密微型移动滑台，可实现多点位、多样品的位移和同时检测
5）涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）
6）成分分析范围：硫S(16)/铝Al（13）- 铀U（92）
7）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
8）四准直器可选，小测量面积可达0.03mm
9）配有微光聚集技术，近测距光斑扩散度小于10%